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    AOI

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    TFT-LCD 屏幕缺陷自動檢測設備
    來源:武漢華威科智能技術有限公司 發布時間:2017-12-20 瀏覽量:

          

      

             利用先進的機器視覺技術,針對TFT-LCD、OLED屏幕生產制程中產生的各類表面缺陷(點缺陷、線缺陷、Mura 缺陷、污漬)進行自動檢測、分類及定位,為客戶提供高可靠性、快速的表面缺陷檢測解決方案,實現自動化、高效化生產。設備采用雙工位轉盤式結構,體積小,最佳率配置;檢測精度高,最小分辨缺陷精度可達到10um以下。



    功能描述:

         設備可應用于中小屏幕TFT-LCD 3-7寸Cell、Open Cell、LCM模組各類表面缺陷進行電測,廣泛應用于手機/平板/車載/VR/穿戴等消費電子產品。設備采用2900萬高分辨、高信噪比主相機準確取像,利用我公司獨特的軟件算法將圖像背景與缺陷分離。設備總體采用模塊化設計,便于組裝、操作及維護。檢測精度已經超過人眼的檢測質量水平,并能夠提供更高的檢測效率。



    技術規格參數:

    缺陷類型

    點、線、mura、污漬

    檢測精度

    1/3 SubPixel;灰階差10Level

    LCD尺寸

    3’-7’

    pattern

    8

    檢測速度

    8s/pcs

    重復定位精度

    ±0.025mm

    缺陷識別精度

    ≥95%

    漏檢率

    ≤0.05%

    錯檢率

    ≤10%




    地址:武漢市東湖開發區未來科技城
    電話:027-65382072
    郵箱:whhit_admin@163.com
    網站:www.linyixinlei.com

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